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Le contrôle qualité des produits, services et systèmes est un domaine complexe et transversal qui met en interaction plusieurs disciplines en relation avec les phénomènes liés à la nature des objets à contrôler, ces derniers peuvent être sous des formes variées. L’échelle de contrôle est un facteur déterminant dans le choix des méthodes de contrôle et de leurs capacités à satisfaire les exigences, ainsi une vision multi échelle des phénomènes est nécessaire. Un processus de contrôle débute avec une mesure ou échantillonnage et se termine par une décision de conformité à une exigence, le résultat de cette dernière est naturellement affecté par l’ensemble des erreurs générées du début jusqu'à la fin de séquence de contrôle. Les bases de données sous les formes qualitatives et quantitatives seront fouillées utilisées comme éléments de base y compris leurs incertitudes associées, Ce projet consiste à réaliser des objectifs de développement de méthodes, de modèles et d’applications.Sur le plan développement deux objectifs fondamentaux sont à considérer:1. Elaboration de Bases de données : La caractérisation et l’analyse approfondie des matériaux et systèmes à haute valeur ajoutée (stabilité, homogénéité…) : Les données acquises sont sous différentes formes en mono et multidimensionnel: Signaux conventionnels et images. 2. Le développement de méthodes des criptives : Bases de données générées pour des conditions de fonctionnement normales et dégradées des systèmes et processus : Une revue des méthodes existantes sera considérée, une importance particulière sera accordée au développement d’approches combinées,3. Le développement de méthodes inférentielles pour l’analyse, la détection, la prédiction et l’optimisation: Une revue des méthodes existantes sera considérée, néanmoins une importance particulière sera accordée aux nouvelles méthodes utilisant la combinaison des statistiques inférentielles aux techniques de modélisation et d’estimations intelligentes et multi échelles. Les méthodes de validations seront aussi considérées. Les objectifs de développement cités ci-dessus seront réalisés par des applications comme suit:• Etude descriptive avec une recherche des inférences pour l’Homogénéité et stabilité des propriétés des (matériaux et systèmes) associés aux données de caractérisation (traitement d’images: MEB/optique, Analyses, propriétés magnétiques) et autres données pertinentes,• Recherche des inférences en développant de nouvelles méthodes, modèles et techniques,• Validation pour l’élaboration d’une inférence entre les différents paramètres dans un but d’optimisation du système considéré.• Analyse de sensibilité et évaluation des incertitudes associées : Des modèles stochastiques seront développés,