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La spectroscopie Raman et infrarouge sont des techniques non destructives, elles permettent d’identifier les structures des matériaux cristallins et amorphes, de déterminer les phases formées, d’étudier l’homogénéité des dépôts de couches minces et de déterminer les états cristallin ou amorphe des matériaux. Le projet porte sur la caractérisation de différents types de matériaux par spectroscopie Raman, spectroscopie infrarouge, et d’autres techniques optiques sous leurs différentes formes, nous nous intéresseront particulièrement au verre (silicates amorphes), aux couches minces (oxyde de Zinc, silicium amorphe et de carbure de silicium amorphe,..) déposés sur différents substrats (verre, silicium, inox,..) et des polymeres (PLA). Dans Ce projet, on s’intéressera aussi à l’amélioration des méthodologies d’analyses et des procèdes expérimentales afin d’améliorer la qualité des spectres bruts ; une approche basée sur l'analyse en composantes principales (ACP) serra utilisés pour traiter le volume important desdonnées issues de cartographie de spectre Raman et d’extraire des informations pertinentes présentes dans ces spectres Raman brute (inhomogénéités, dosages, natures amorphe ou cristalline, déplacements de bandes, des largeurs de bandes et des asymétries,…) Ces algorithmes développés permettront de déceler et de localiser les infimes variations pertinentes dans les spectres recueillis et de les visualiser en image offrant ainsi des informations pertinentes d’un point vue spatiale et spectrale.