Classification des défauts détectés par Ultrasons par la méthode des KPPV et la méthode Bayesienne

Type : Article de conférence
Auteur(s) :  DRAI Redouane, Khelil Mohamed, Benchaala Amar
Année :  2001
Domaine : Electronique
Conférence: CIP 2001, Conférence Internationale sur la Productique. Proceedings, 362-372
Lieu de la conférence: 
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Mots clés :  contôle non destructif, ultrasons, traitement du signal, classification

Résumé : 

Dans cet article nous developpons une methode de mesure d'atributs obtenus à partir des signaux de défauts qui sont regroupés dans une banque de données. ensuite deux methodes de classification à savoir la methode des K plus proches voisins et la methode bayésienne sont implémentées permettant la classification des défauts de soudure. ces algorithmes sont appliqués au contrôle non destructif des materiaux par ultrasons.