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Classification des défauts détectés par Ultrasons par la méthode des KPPV et la méthode Bayesienne

Auteurs : DRAI Redouane, Khelil Mohamed, Benchaala Amar
Année : 2001
Domaine : Electronique
Type : Communication
Conférence: CIP 2001, Conférence Internationale sur la Productique. Proceedings, 362-372
Résumé en PDF : (résumé en pdf)
Fulltext en PDF : (.pdf)
Mots clés : contôle non destructif, ultrasons, traitement du signal, classification

Résumé :

Dans cet article nous developpons une methode de mesure d'atributs obtenus à partir des signaux de défauts qui sont regroupés dans une banque de données. ensuite deux methodes de classification à savoir la methode des K plus proches voisins et la methode bayésienne sont implémentées permettant la classification des défauts de soudure. ces algorithmes sont appliqués au contrôle non destructif des materiaux par ultrasons.